Композиционные триботехнические материалы на основе олигомеров сшивающихся смол
| Категория реферата: Рефераты по химии
| Теги реферата: реферат поведение, способ изложения
| Добавил(а) на сайт: Чюличков.
Предыдущая страница реферата | 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 | Следующая страница реферата
4. Систему измерения линейного износа.
5. Аналого-цифровой преобразователь.
6. Блок защиты от перегрузок.
2.3. Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
Метод АСМ применяется для измерения топографии поверхности твердых тел в
нанометровом диапазоне и анализа особенностей ее строения.
Изображение поверхности в АСМ получают при помощи сканирования образца в
горизонтальной плоскости с использованием иглы с радиусом кривизны острия
порядка десятков-сотен нанометров, укрепленной на консоли (колеблющейся) с
известной жесткостью. При сканировании измеряется отклонение (сдвиг
резонансной частоты колебаний) консоли под действием сил между иглой и
поверхностью. Таким образом, при регистрации сил взаимодействия (градиента
сил) проводят картографирование поверхности.[15]
Аналитический узел сканирования АСМ представляет собой открытую
конструкцию для работы на воздухе с хорошим доступом при установке образца
и смене сканирующего зонда. Обзор места подвода острия зонда к исследуемой
поверхности может обеспечиваться использованием длиннофокусного оптического
микроскопа.
Аналитический зонд АСМ представляет собой ‘Г’-образную консольно
закрепленную балку с острием (радиус закругления –0,1мкм) на свободном
конце, изготовленную из вольфрамовой проволоки методом электро-химического
травления и полирования. Вторым, более длинным концом, бапка связана с
биморфным пьезокерамическим элементом (БД), который при подаче
осциллирующих напряжений от генератора частот (ГЧ) приводит ее в колебания
с собственной частотой (30-100кГц). При приближении зонда к поверхности
образца (О) на расстояние порядка нескольких нанометров, амплитуда
колебаний балки изменяется под влиянием молекулярных сил (отталкивания)
возникающих между острием и поверхностью образца.
Рис.2. Принципиальная схема АСМ
З- зонд;
БМ- биморфный элемент;
ГЧ- генератор частот;
О- образец;
ЛИ- люминисцентный источник;
ОВ- оптическое волокно;
БЭ- блок электроники;
ПК- персональный компьютер;
ПД1,2,3,4- пьезоэлементы двигателя.
Изменение амплитуды колебаний зонда детектируется оптической системой, в
которой пучок света от ЛИ проходя по ОВ, отражается, во-первых, от его
скола на краю волокна подведенном с помощью регулируемого кронштейна на
расстояние 10мкм к ?пятке’ зонда и , во-вторых, от полированного участка на
поверхности балки. Разность отраженных оптических сигналов регистрируется и
обрабатывается блоком электроники (БЭ). По изменениям разницы сигналов
судят об изменении амплитуды колебаний зонда и , следовательно, об
изменении расстояния между сканирующим острием и исследуемой поверхностью.
С помощью системы обратной связи на базе управляющего компьютера (ПК) и
блока электроники (БЭ) подаются соответствующие управляющие напряжения на Z-
участок, пьезоэлементы двигателя (ПД). ПД, удлиняясь или укорачиваясь, совершают перемещение острия (или образца) вдоль оси Z и тем самым
поддерживают постоянным расстояние между острием зонда и поверхностью
образца во время сканирования.
Системы детектирования и перемещений обеспечивают чувствительность по оси
Z 0,1-0,2 нм, в плоскости ХОУ- разрешение до 5-10 нм.
Сканирование острия зонда над измеряемой поверхностью осуществляется
пьезодержателем ПД1. Для этого соответствующие квантовые напряжения на ХУ-
участки трубчатого элемента подают, что приводит к их изгибу относительно
осей ОХ и ОУ и, следовательно, к сканированию в плоскости ХОУ. В
зависимости от состояния системы цифровой процессор управляет положением
зонда. Компьютер реализует растровую разветку пьезодвигателя. В заданных
узлах растровой сетки производятся измерения положений. Данные
накапливаются в ОЗУ компьтера.
Сканирование.
Подготовленный для исследований на САМ образец закрепляют на платформе
держателя в аналитическом узле таким образом, что предполагаемый участок
сканирования располагается под острием зонда. Платформа устанавливается на
направляющие. После чего, осуществляется подвод образца, выбор режима и
производится сканирование.
Обработка данных.
В результате экспериментальных исследований были получены САМ-
изображения, обработка производится на компьютере с использованием
оригинальных программ.
Первичная обработка включает вычисление общей плоскости наклона
изображения и фильтрацию шумовых компонентов. Затем методом многократной
повторной фильтрации находят длинноволновые составляющие рельефа.
Для полученных изображений производится статистический анализ высот
топографии, углов наклона рельефа и ориентационных углов. Кроме того, выполняются профильные сочетания изображений, которые затем обрабатываются
по специальной программе для определения параметров шероховатости.
2.4. Определение ударной вязкости
Ударная вязкость в данной работе определялась на маятниковом копре RM-
201.Маятниковый копер предназначен для испытания пластмасс на сопротивление
изгибу при ударе, на их долговечность и вязкость.
Маятниковый копер работает по принципу Шарпи. Маятник качается на оси, вращающийся в подшипниках, закрепленных на вилкообразной чугунной стойке. В
нижней части стойки имеются опоры для закрепления образца. Расстояние между
опорами можно регулировать соответственно размерам образца. На полукруглой
шкале, расположенной центрично с осью маятника, имеются два деления в
соответствии с работой удара разных маятников. В поднятом положении маятник
фиксируют собачкой. Вытянув собачку и освободив этим маятник, накопившаяся
в нем кинетическая энергия освобождается и маятник в своем самом нижнем
положении ударяет на установленный на опорах образец и ломает его. Часть
энергии израсходуется на разрушение образца; оставшаяся в маятнике
кинетическая энергия заставляет маятник взлетать в противоположную сторону.
Выходящий за пределы самого нижнего положения маятник, сломав образец при
помощи ручки, насаженной на его ось, перемещает из своего исходного
положения фрикционную стрелку, которая показывает величину взлета маятника.
Шкала отградуирована с таким расчетом, что позволяет непосредственный
отсчет энергии, израсходованной на излом.
2.5. Рентгеноструктурный анализ
Рентгеновские дифрактометры- приборы, использующие ионизационные или
инсциляторные методы регистрации дифракционных максимумов.[14]
Современный дифрактометр является сложной установкой, в которой
осуществляется фокусировка рентгеновских лучей, отраженных от образца, и
измеряется интенсивность дифракционных максимумов с помощью счетчиков.
Установка снабжена электронной и интегрирующей схемами и автоматической
записью кривых интенсивностей.
В СНГ серийно выпускаются дифрактометры семейства ДРОН (дифрактометр
рентгеновский общего назначения) в основе которых используется одна и та же
схема фокусировки рентгеновских лучей, названная в честь авторов -
фокусировка по Брэггу-Брентано.
Дифракционная картина регистрируется последовательно по мере вращения
образца и счетчика. Поэтому необходимо, чтобы интенсивность излучения
рентгеновской трубки была постоянной, а геометрическая съемка должна быть
фокусирующей при сравнительно больших размерах образца.
Дифрактометры семейства ДРОН состоят из источника высокого напряжения, на
котором обычно располагается оперативный стол с реализацией той или иной
схемы фокусировки, которая включает рентгеновскую трубку, счетчик
рентгеновских квантов. В отдельных стойках (или стойке, в зависимости от
модели) размещаются блоки линейного усилителя, дифференциального
дискриминатора, пересчетного устройства, его секундомера, устройство вывода
информации, дифропечатающего устройства, самопишущего прибора, которые
обеспечивают функционирование и возможность реализации той или иной задачи.
РТ- рентгеновская трубка,
Д- детектор,
РГ- регестрирующее устройство,
БФИ- блок формирования импульса,
ПС- пересчетная схема,
ИСПИ- измеритель скорости подачи импульсов,
ЭПП- электронный пишущий потенциометр,
ВУ- высоковольтное устройство,
О- образец.
Рис.3 Принципиальная схема дифрактометра
Глава III. Исследование структуры и свойств полимерных материалов, модифицированных кремнийсодержащими добавками
3.1. Результаты рентгеноструктурного анализа
3.1.1.Рентгеноструктурный анализ кремня
Рекомендуем скачать другие рефераты по теме: менеджмент, курсовые работы бесплатно, сочинение на тему зима.
Категории:
Предыдущая страница реферата | 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 | Следующая страница реферата