Оценка вероятности безотказной работы по критериям остаточного ресурса
| Категория реферата: Рефераты по математике
| Теги реферата: реферат ссср, понятие культуры
| Добавил(а) на сайт: Осип.
Предыдущая страница реферата | 1 2 3 4 | Следующая страница реферата
Формулу (15) можно упростить проинтегрировав по одной из переменных в области D[l,t,l*]:
[pic] (16)
Другую эквивалентную форму получим, взяв в качестве независимой переменной l*:
[pic] (17)
Рассмотренная схема оценки вероятности отказов по критерию остаточного ресурса учитывает рост одиночного дефекта. При наличии множества начальных дефектов с различными размерами будем считать, что их рост происходит независимо. Разобьем весь интервал начальных размеров дефектов, как обнаруженных в результате контроля, так и пропущенных, на подинтервалы со средними начальными размерами lk. Обозначим через ?k математическое ожидание числа дефектов, попавших в k-ый интервал. Эта величина находится через математическое ожидание kk числа обнаруженных в результате контроля дефектов в k-ом интервале и через вероятность их обнаружения Ра(lk) по формуле: [pic].
Суммарная вероятность отказов при наличии множества дефектов находится как:
[pic] (18)
здесь через Hk(t) обозначена вероятность отказов, вычисленная по формуле
(16) или (17) при начальном размере дефекта lk.
Окончательно с учетом вероятности отказов к моменту контроля t0 для вероятности отказов в момент времени t>t0 получим:
H(t)=H0+H?(t) (19) где вероятность H0 находится по формуле (8).
По формуле (19) можно оценит увеличение риска с течением времени эксплуатации после очередного контроля. Эта формула позволяет также оценить остаточный ресурс из условия непревышения вероятностью отказов предельного значения H*. Расчетное значение остаточного ресурса ?* находится как корень уравнения H(?)=H*.
Учет различных типов дефектов производится по формуле:
[pic][pic] (20)
где вероятности отказов Hj(t) для каждого типа дефектов находятся согласно
(19).
Для численного примера аппроксимируем функцию распределения длин
дефектов F(l) и критических дефектов асимптотическими распределениями
Вейбулла с параметрами l0, l*0, lc, l*c, a, a1:
[pic] (21)
[pic] (22)
Математическое ожидание числа обнаруженных дефектов аппроксимируем зависимостью с параметрам ?1 и l1: [pic].
Уравнение роста дефектов (10) перепишем в виде:
[pic] (23)
При ?=const решение этого уравнения с начальным условием lk(t0)= l0k имеет вид: [pic] , где m1=m/2-1 (24)
Рассматривая параметр напряжения ? как случайный с распределением Релея
[pic] (25)
Найдем распределение длин дефектов Fl(lk;t) по формуле (12), которая примет вид:
[pic] (26) где ?(lk;t) – решение уравнения (24) относительно ?:
[pic] (27)
После вычисления интеграла (26) получим:
Рекомендуем скачать другие рефераты по теме: культура шпори, менеджмент.
Категории:
Предыдущая страница реферата | 1 2 3 4 | Следующая страница реферата